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      • 名稱: 半導體(硅片)測厚儀

      • 備注: GP-T-2半導體測厚儀結構緊湊,自帶集成式工業電腦,采用高精度大量程光譜共焦測頭,該測頭高精度、高穩定性,且對于不同材質、不同表面產品具有優異的適用性,使得本品在測量硅片厚度、TTV及彎曲度等參數方
      • 品牌: SAK
      • 規格: GP-T-2

      • 名稱: Giatec-iCOR鋼筋腐蝕...

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      • 名稱: SmartRock2混凝土強度...

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      • 名稱: 工業內窺鏡VJ-ADV6.9M...

      • 備注: 高品質、高性能集多功能于一體的便攜式工業內窺鏡!
      • 品牌: 日本RF
      • 規格: VJ-ADV6.9MM

      • 名稱: 工業內窺鏡VJ-STR6.9M...

      • 備注: 集拍照、錄像、觀察于一體的小巧型便攜式多功能工業視頻內窺鏡!
      • 品牌: 日本RF
      • 規格: VJ-STR6.9MM

      • 名稱: MTI MT3TGS測厚儀

      • 備注: microtrak 3測厚儀系統結合的證明激光三角傳感器的模塊化控制器,可以操作無論是作為一個獨立的解決方案,或與PLC / PC microtrak?3 TGS控制器可以檢測出范圍厚度的條件下在0.
      • 品牌: MTI(美國)
      • 規格: MTI MT3TGS測厚儀

      • 名稱: 工業內窺鏡VJ-ADV3.9M...

      • 備注: VJ-ADV3.9MM
      • 品牌: 日本RF
      • 規格: VJ-ADV3.9MM

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